|
IX 20
|
Микроэлектронные детали;
Нейтронная радиография;
Ответственные прецизионные отливки;
Исключительно мелкие керамические детали; Композитные углепластиковые детали.
|
Плёнка с одним слоем эмульсии, исключительно мелким зерном и средне-высокой контрастностью, предназначенная для областей применения, где необходимы качественные изображения.Один слой эмульсии сводит параллакс к минимуму и дает резкое изображение при увеличении. IX20 обычно используется при прямом экспонировании или со свинцовым экраном.
|
|
IX 25
|
Микроэлектронные детали;
Мелкие керамические детали;
Отливки: металлы с небольшим или средним атомным чистом;
Области применения, требующие максимальной контрастности;
Мощное рентгеновское облучение со сверхвысоким напряжением.
|
Специальная плёнка ASTM стандарта с самым мелким зерном и максимальной резкостью и разрешением. Предназначена для исследования новых материалов, например, углепластиков, керамических изделий и микроэлектронных деталей. IX 25 обычно используют при прямом экспонировании или со свинцовыми экранами. IX25 рекомендуется обрабатывать только автоматически.
|
|
IX 50
|
Электронные детали;Углепластиковые композиты;Экспозиция с помощью высокоактивных изотопов;
Отливки: металлы с небольшим или средним атомным чистом.
|
Плёнка ASTM стандарта, класса I с исключительно мелким зерном и высокой контрастностью, исключительной резкостью и разрешением. Плёнка предназначена для исследования материалов с низким атомным числом, когда необходимо получить очень детальное изображение. Благодаря исключительно мелкому зерну используется при исследовании слабоконтрастных объектов при экспонировании мощным рентгеновским или гамма-излучением. Продемонстрирован широкий динамический диапазон на высококонтрастных объектах. Плёнка обычно используется при прямом экспонировании или со свинцовыми экранами.
|
|
IX 80
|
Сварные швы: металлы с небольшим или средним атомным числом;
Отливки: металлы с небольшим или средним атомным числом;
Производство и обслуживание самолетов; Углепластиковые композиты.
|
Плёнка ASTM стандарта, класса I с исключительно мелким зерном и высокой контрастностью, исключительной резкостью и разрешением используется для обнаружения мелких дефектов. Плёнка предназначена для исследования материалов с низким атомным числом с помощью рентгеновского облучения, а также для исследования материалов с более высоким атомным числом с помощью высоковольтного рентгеновского облучения или гамма-излучения. Продемонстрирован широкий динамический диапазон на высококонтрастных объектах. Плёнка IX 80 обычно используется при прямом экспонировании или со свинцовыми экранами.
|
|
IX 100
|
Сварные швы: металлы со средним или высоким атомным числом; Отливки: металлы со средним или высоким атомным числом;
Производство и обслуживание самолетов;
Проверка артиллерии.
|
Плёнка ASTM стандарта, класса I с исключительно мелким зерном и высокой контрастностью, исключительной резкостью и разрешением используется для обнаружения мелких дефектов. Плёнка предназначена для исследования материалов с низким атомным числом с помощью рентгеновского облучения, а также для исследования материалов с более высоким атомным числом с помощью высоковольтного рентгеновского облучения или гамма-излучения. Продемонстрирован широкий динамический диапазон на высококонтрастных объектах. Плёнка IX 80 обычно используется при прямом экспонировании или со свинцовыми экранами.
|
|
IX 150
|
Тяжелые, многослойные стальные детали; Бетон со стальной арматурой; Экспонирование слабым рентгеновским излучением или с помощью изотопов слабой активности.
|
Высокочувствительная плёнка ASTM стандарта, класса 111 с мелким зерном и высокой контрастностью предназначена для исследования разных образцов с помощью источников рентгеновского и гаммаизлучения. Рекомендуется использовать плёнку IX 150 для проверки очень толстых образцов при невозможности использовать высокоактивный источник гамма-излучения. Плёнка IX 150 используется при прямом экспонировании или со свинцовыми экранами.
|
|
IX 29
|
Отливки и прочие объекты разной толщины.
|
Плёнка с исключительно мелким зерном и средневысокой контрастностью ASTM стандарта, класса W-A предназначена для проверки объектов разной толщины с помощью источников рентгеновского или гамма-излучения. Плёнка IX 29 используется при прямом экспонировании или со свинцовым экраном.
|
|
IX 59
|
Отливки и прочие объекты разной толщины.
|
Плёнка с исключительно мелким зерном и средней контрастностью ASTM стандарта, класса W-B предназначена для проверки металлических и стальных литых деталей разной толщины с низким атомным числом. Плёнка IX 59 используется при прямом экспонировании или со свинцовым экраном.
|
|
IX50XD
|
Компоненты для аэрокосмической отрасли; Сварные детали (металлы с низким и средним атомным числом); Литье (металлы с низким и средним атомным числом); Электронные компоненты.
|
Плёнка со сверхмелкой зернистостью, чрезвычайно высокой контрастностью и средней скоростью.
|
|
IX80XD
|
Сварные детали (металлы с низким и средним атомным числом); Литье (металлы с низким и средним атомным числом); Компоненты для аэрокосмической отрасли.
|
Плёнка с чрезвычайно мелкой зернистостью, очень высокой контрастностью и средней скоростью.
|
|
IX80XD
|
Сварные детали (металлы с низким и средним атомным числом); Литье (металлы с низким и средним атомным числом); Компоненты для аэрокосмической отрасли.
|
Мелкозернистая плёнка с высокой контрастностью и высокой скоростью.
|
