Универсальный рентгенофлуоресцентный анализатор X-200
Аналайзер X-200 — рентгеновский спектрометр, предназначенный для обнаружения и идентификации веществ в составе объекта контроля. Рассчитан на работу как с минералами (и геохимией в целом), так и металлами (за исключением углеродных сплавов).
Представленный спектрометр является отличным решением как для сортировки металлолома, так и для неразрушающего контроля в целом. Обладает высокой скоростью работы и высокой анализирующей производительностью (с момента начала анализа до вывода веществ и их количества проходит не более 10 секунд). Обладает малым весом и имеет небольшие габариты. Этот прибор оперативно выдаёт данные по различным веществам, в том числе алюминиевым сплавам.
Имеет приложение SciAps Empirical App, разработанное для пользователей, желающих исследовать иные типы материалов и создать собственные калибровочные модели. Спектрометры могут быть откалиброваны как в соответствии с заводскими параметрами (Compton Normalization, EPA Method 6200), так и по пользовательским настройкам.
Спектрометр X-200 управляется операционной системой Android и оснащён набором датчиков и портов, благодаря чему рентгенофлуоресцентный аналайзер имеет возможность передавать полученные данные (в виде отчётов, например) на различные устройства. Например, он может передать результаты анализа на рабочий смартфон или планшет по Bluetooth, по WiFi — на компьютер, расположенный в офисе или даже по почте и SMS. При необходимости те же данные можно распечатать на портативном принтере.
Кроме того, устройство снабжено антибликующим цветным пятидюймовым сенсорным экраном, как у смартфона, поддерживающим автоматическую регулировку яркости.
Рентгеновская трубка
- Родиевый анод для сплавов. Напряжение: 40 кВ.
- Золотой анод для геохимии. Напряжение: 50 кВ.
Детектор
- Размер кремниевого дрейфового детектора: 20 мм2.
- До 125 000 отсчётов в секунду (cps)
Геохимия
Предлагает точность, чувствительность и перечень обнаруживаемых веществ, сопоставимые с другими ведущими моделями XRF, но в более лёгком и доступном исполнении.
Металлы и сплавы
Спектрометр X-200 XRF способен анализировать различные сплавы, особенно он эффективен при сортировке алюминиевых сплавов. Например, для идентификации сплава с содержанием магния 0,8 % достаточно сканирования на протяжении 8–10 секунд. Марки сплавов с особо низким содержанием магния (вроде 6063, 356 или 3004, где доля магния составляет 0,3–0,5 %) тестирование может занять до 15–20 секунд. Иные вещества (вроде кремния, серы или фосфора) детектор способен выявить при длительности тестирования 5–6 секунд.
Стандартный набор элементов
Ниже представлен стандартный набор элементов, который может идентифицировать X-200 по умолчанию. При необходимости список можно расширить, отправив запрос производителю, добавив сторонние библиотеки или внеся собственные настройки.
| Применение |
Тип луча 1 (40 кВ) |
Тип луча 2 (10 кВ) |
Тип луча 3 (50 кВ) |
| Добыча (Geo-Mining) |
Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Au, Hg, Pb, Bi, U |
Mg, Al, Si, P, S, K, Ca |
Ag, Sn, Sb, Ba |
| Поиск руд (Geo-Env Soil) |
Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Mo, W, Tl, Hg, Pb, Bi |
Mg, Al, Si, P, S |
Ag, Cd, Sn, Sb, Ba |
| Сплавы |
Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Y, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Hf, Re, Au, Pb, Bi, Ru, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb |
Mg, Al, Si, P, S |
N/A |
| Ценные металлы |
Ti, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, W, Au, Ge, Ir, Pt, Au, Pb, Bi, Zr, Mo, Ru, Rh, Pd, Ag, Cd, In, Sn, Sb |
N/A |
N/A |
