Fischerscope X-Ray рентгенофлуоресцентный спектрометр

array(1) {
  [0]=>
  array(11) {
    ["price"]=>
    string(19) "По запросу"
    ["oldprice"]=>
    NULL
    ["name"]=>
    string(9) "Цена:"
    ["id"]=>
    string(4) "1200"
    ["sku"]=>
    string(0) ""
    ["currency_code"]=>
    string(3) "₽"
    ["check_min_price"]=>
    string(1) "0"
    ["available"]=>
    int(1)
    ["count"]=>
    NULL
    ["product_attr_id"]=>
    string(4) "2935"
    ["product_attr_nomenclature_c"]=>
    string(0) ""
  }
}
По запросу
Остаток актуален на
18:00:01      28.03.2024
Цена:
В наличии
Бренд: 

Способы получения:

Самовывоз - 1 день

Доставка до ТК - 1-2 дня

Доставка по адресу - по запросу

Рентгенофлуоресцентные анализаторы Fischerscope X-Ray

Рентгенофлуоресцентные спектрометры применяются для тщательного анализа элементного (химического) состава покрытий.

Fischerscope X-Ray предназначены для измерения толщины химических и гальванических покрытий, определения элементного состава образца исследования и массовой доли его компонентов. Спектрометры Fisherscope X-Ray реализуют метод энергодисперсионной рентгеновской флуоресценции и используются для работы с металлами, в том числе драгоценными, различными сплавами и электролитами. Важной особенностью анализаторов данной серии является возможность измерения толщины многослойных покрытий.

Качественный анализ химических элементов позволяет классифицировать состав материала от натрия (Na, Z=11) до урана (U, Z=92). Высокоточная регистрация детектором интенсивности вторичного излучения электронов способствует точному определению количественного состава вещества.

Применение спектрометров

Спектрометры Fischerscope X-Ray применяются в научно-исследовательских центрах, заводских лабораториях металлургических, металлообрабатывающих, машиностроительных предприятий и на любых сферах производства, где необходим контроль качества исходного сырья, веществ и материалов производства, заготовок и покрытий. Рентгенофлуоресцентные анализаторы применяют для измерения проводников и контактных площадок на печатных платах, анализа электролитов, изделий из драгметаллов и многих других веществ. Спектрометры данной серии нашли широкое применение в полупроводниковой и радиоэлектронной промышленности.

В полупроводниковой промышленности спектрометры-толщиномеры Fischerscope X-Ray используют для элементного анализа покрытий на печатных платах и для измерения толщины однослойных и многослойных покрытий в малых компонентах, проводах, на небольших конструкциях и малогабаритных деталях. Измеритель позволит проанализировать материалы тонкой структуры сплавов, в т.ч. низкой концентрации, и исключить типичные ошибки конструирования печатных плат.

В радиоэлектронике спектрометры Fischerscope X-Ray применяются для исследования небольших конструкций и соединительных контактов из тонкоструктурных золотых, палладиевых, никелевых изделий и их сплавов. Проводятся измерения элементного состава и толщины однослойных и многослойных декоративных и гальванических покрытий на разъемах и контактах. Кроме того, спектрометр применяется для анализа трассировки микросхем, а также количественного и качественного определения химических элементов, например, золота под слоем оловянного покрытия. Также оборудование позволяет измерить толщину и состав слоев NiP (никель-фосфор), который часто используется в производстве контактных площадок в качестве подложки для золота.

Принцип работы рентгенофлуоресцентного анализатора

В спектрометрах Fischerscope X-Ray реализован энергодисперсионный метод элементного анализа. Его суть заключается в том, чтобы определить линии спектра рентгеновского излучения, которые индивидуальны для каждого химического элемента. Во флуоресцентном анализаторе для этого используется рентгеновская трубка, детектор и специальное программное обеспечение (ПО).

На первом этапе первичное рентгеновское излучение проходит через электроны материала исследования и переводит их на более высокий энергетический уровень. В состоянии вторичного рентгеновского излучения пучки электронов находятся очень короткое время, но его достаточно чтобы детектор анализатора классифицировал их индивидуальный спектр излучения согласно химическому составу. По уровню интенсивности излучения спектрометр определяет количественный состав материала. Расчеты толщины и элементного состава проводятся с помощью ПО.

Программное обеспечение

Настройка и управление спектрометрами Fischerscope X-Ray происходит за счет интуитивно понятного ПО WinFTM. В нем предусмотрен функционал для сглаживания, масштабирования, наложения и вычитания спектров, а также необходимые функции для проведения неразрушающего контроля. Работа с анализаторами осуществляется на персональном компьютере.

Поставка

ООО «Рентгенсервис» является официальным дилером компании Fischer и располагает широким ассортиментом моделей рентгенофлуоресцентных спектрометров Fischerscope X-Ray, а также необходимых комплектующих к ним, сертификационной документацией и лицензионным программным обеспечением (версии WinFTM V.6 Light и Basic). 

Оборудование внесено в государственный реестр средств измерений утвержденного типа (№ 74835-19, № 67949-17, № 64384-16). 

 

Заметили ошибку? Выделите текст ошибки, нажмите Ctrl+Enter, отправьте форму. Мы постараемся исправить ее.